自營(yíng)ZEISS蔡司 T-SCAN 手持式激光掃描儀

蔡司T-SCAN 手持式激光掃描儀

模塊化系統(tǒng)即刻采集數(shù)據(jù)，無需零件準(zhǔn)備工作

快速，直觀，高精

模塊化 蔡司T-SCAN 系統(tǒng)助力實(shí)現(xiàn)快速檢測(cè)：系統(tǒng)即刻捕捉零件三維數(shù)據(jù)，無需任何準(zhǔn)備工作。 手持式激光掃描儀 T-SCAN與光學(xué)跟蹤系統(tǒng) T-TRACK，接觸式探針T-POINT 完美結(jié)合，形成一套直觀且高精度的三維計(jì)量解決方案。搭配 GOM Inspect Suite 軟件套裝，突破了其在三坐標(biāo)測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域的新高度。

模塊一體化概念

模塊一體化概念和完整的激光掃描解決方案為各種應(yīng)用和表面檢測(cè)提供極高的靈活性。

及時(shí)偏差檢測(cè)

移動(dòng)式測(cè)量解決方案可作用于車間現(xiàn)場(chǎng)，帶來直觀的零件分析，測(cè)量以及數(shù)模建立。

用戶引導(dǎo)性的工作流程

GOM Inspect Suite 引導(dǎo)操作人員逐步完成掃描，探針和檢測(cè)過程，并支持實(shí)時(shí)進(jìn)度查看。

適用于不同大小測(cè)量體積的光學(xué)跟蹤系統(tǒng)

T-SCAN手持式激光掃描儀可與兩款光學(xué)跟蹤系統(tǒng)搭配使用，其中T-TRACK 20技術(shù)成熟、測(cè)量體積大至20 m3，T-TRACK 10測(cè)量體積更小、精確度更高，測(cè)量體積達(dá)10 m3。如需快速可靠地采集單個(gè)測(cè)量位置，可選擇T-POINT接觸式探針。它是針對(duì)物體標(biāo)準(zhǔn)幾何形狀，切邊區(qū)域，以及光學(xué)測(cè)量手段難以進(jìn)入的死角區(qū)域進(jìn)行單點(diǎn)測(cè)量的理想解決方案。

GOM Inspect Suite: 直觀的操作軟件帶來簡(jiǎn)化的工作流程

模塊化的T-SCAN系統(tǒng)可與以用戶為中心的GOM Inspect Suite多合一軟件解決方案實(shí)現(xiàn)同步結(jié)合。測(cè)量和檢測(cè)均可以在軟件中執(zhí)行，全參數(shù)化的工作流程確保所有過程步驟的可追溯性。由此帶來更簡(jiǎn)單，快速和高效的工作流程。

廣泛的行業(yè)應(yīng)用

質(zhì)量控制和檢測(cè)

標(biāo)稱和實(shí)際數(shù)據(jù)對(duì)比

鈑金件邊界和邊緣數(shù)據(jù)獲取

復(fù)雜焊接結(jié)構(gòu)的檢測(cè)

車間檢測(cè)

模具和模型制造

模具重建

掃描數(shù)據(jù)以生成加工路徑

對(duì)過審模具進(jìn)行實(shí)際數(shù)據(jù)采集

捕捉復(fù)雜零件動(dòng)態(tài)，例如捕捉裝夾過程中的變形數(shù)據(jù)

產(chǎn)品開發(fā)和設(shè)計(jì)

高動(dòng)態(tài)范圍，可掃描各種表面

掃描設(shè)計(jì)模型用于CAD下游處理和文件存檔

量具和夾具設(shè)置

快速采集參考幾何形狀和指定區(qū)域

技術(shù)參數(shù)

ZEISS T-SCAN 手持式激光掃描儀

ZEISS T-TRACK 10

ZEISS T-TRACK 20