GIN精展平面平晶55155/GOF
品牌：GIN(精展)
型號：55155
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GIN(精展)區(qū)域經(jīng)理 李經(jīng)理：18929218517咨詢平晶是利用光波干涉現(xiàn)象測量平行度及平面度誤差的，故其測量方法稱為平晶干涉法，也稱技術(shù)光波干涉法。借助于平行平晶產(chǎn)生的干涉條紋圖案可對測量表面的平行度進行檢測。
| 訂購編號 Order No. | 規(guī)格明細 | 直徑 | 厚度 | 平行度 | 平面度 |
| 55150-01 | 高精度平行平晶 | φ30 | 12 | 0.2μm | 0.1μm |
| 55150-02 | 一般精度平行平晶 | φ30 | 12 | 0.4μm | 0.2μm |
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